大规模数字逻辑集成电路测试技术研讨会

　　为推动北京集成电路行业测试技术的普及和发展，北京集成电路设计园与日本VTT株式会社将联合举办大规模数字逻辑集成电路测试技术研讨会。研讨会将就大规模数字逻辑集成电路测试系统的基本构造、测试程序的制作方法、测试矢量的制作方法以及测试应用工具的使用方法开展专题讲座，同时现场演示VTT株式会社的高性能的大规模数字逻辑集成电路测试系统V7100，并邀请嘉宾共同参与。
会议日期：2002年7月23-24日
会议地点：北京集成电路设计园（北京海淀区知春路27号大运村11号楼）
会议费用：免费提供午餐、茶点、资料、纪念品
主讲人：日本VTT株式会社资深工程师吴亚东（博士）、中文演讲